| 光譜儀技術(shù)配置
1. 真空光學(xué)系統(tǒng)
— 巴邢—龍格架法，光柵焦距750mm
— 高發(fā)光全息光柵，刻線為2400條/mm
— 譜線范圍：200 ~ 800nm
— 色散率
一級色散率：0.55nm/mm
二級色散率：0.275nm/mm
— 分辨率：優(yōu)于0.01nm
— 最多可檢測通道：48個
— 240條可選譜線
2. 譜線
— 每條待測譜線對應(yīng)一個狹縫
— 每個通道包括
— 板帶上的一個二級狹縫
— 高性能的光電倍增管
— 一個反射鏡（取決于PMT的位置）
— 光電倍增管的高壓可調(diào)
3.控制顯示系統(tǒng)
— 嵌入式計算機與觸摸屏的結(jié)合，控制并顯示儀器的所有狀態(tài)，提高儀器的自動化程度。
— 光室和電子單元配有恒溫系統(tǒng)。
— 溫度波動控制在+/- 0.1℃
— 系統(tǒng)避免了溫度波動對儀器穩(wěn)定性的影響。
— 火花臺獨立恒溫系統(tǒng)。
— 全通道負高壓顯示
4.控制及數(shù)據(jù)獲取電子單元
— 16位模/數(shù)轉(zhuǎn)換微處理器
5.火花激發(fā)源
— 放電參數(shù)由密碼保護
— 火花源放電穩(wěn)定，不受供電系統(tǒng)波動的影響
— 高能預(yù)火花技術(shù)，最大達600Hz
— 光源頻率能量等參數(shù)連續(xù)可調(diào)
— 放電參數(shù)：
頻率 20-600Hz
電感 120uH
電阻 3.5Ohm
電容 5uF
電壓 380V
6.負高壓
—高精度負高壓模塊，負高壓精度<0.1%。
7.積分采集
— 單火花數(shù)據(jù)采集，可以篩選掉異�；鸹�，提高儀器分析精度。
— 延時積分技術(shù)，分析各通道可采用不同的延時積分，達到積分時間的最佳匹配，提高儀器分析精度。
— USB數(shù)據(jù)采集方式，數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定，對電腦的要求低。
— 多線程的數(shù)據(jù)采集方式，提高軟件的穩(wěn)定性，數(shù)據(jù)的可靠性
8.火花臺
— 火花臺尺寸為100 X 80mm，分析樣品最重可達25Kg
— 安全防護設(shè)備阻止不安全激發(fā)
— 銅基座火花臺，火花臺易于拆卸，便于清潔
— 帶有特殊配件，易于檢測多種形狀的分析對象（餅狀、棒狀、線狀）
— 一體式透鏡隔離閥，透鏡與隔離閥一體，可以防止因日常維護導(dǎo)致的光室污染影響強度下降，透鏡易于更換
— 放電室設(shè)計獨特，保證放電在最佳條件下進行
— 激發(fā)電極為鎢電極
9.真空系統(tǒng)
— 真空由真空泵和真空控制設(shè)備控制
— 鑄造光室，熱膨脹系數(shù)低，保證真空度的要求
— 吸附阱
— 真空泵電磁隔離閥，防止真空泵油倒吸入光室
10. 分析軟件
— 包括不同基體不同曲線的計算
— 全中文分析軟件，方便用戶操作
— 第三元素干擾校正提高分析準(zhǔn)確度
— 軟件允許以下操作：
建立并修改分析程序
輸出方式可選（強度、強度比率、未校正濃度、校正濃度等）
分析結(jié)果的濃度單位可選
可進行通用標(biāo)準(zhǔn)化
類型標(biāo)準(zhǔn)化
校正元素間的干擾
可打印出超過100次激發(fā)的所有結(jié)果及其平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差
在同一點可重復(fù)一次或多次激發(fā)，可剔除一次或多次激發(fā)結(jié)果
標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)庫
可進行統(tǒng)計分析計算
可用不同語言輸出結(jié)果
可將分析結(jié)果輸出成office辦公軟件能接受的數(shù)據(jù)格式
硬盤存儲數(shù)據(jù)為以后的研究提供方便
可連接外部計算機或中心系統(tǒng)
11*. 小樣品夾具
—樣品形狀：絲狀（或棒狀）
—分析樣品直徑范圍：3mm~7mm
—每套夾具可分析的樣品直徑為：3mm，4mm，5mm，6mm，7mm，
即樣品直徑以1mm遞增。
—樣品長度：18～30mm。
—驗收標(biāo)準(zhǔn)：3mm，4mm時，分析精度（RSD）為標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)時的5倍；
5mm，6mm，7mm時，分析精度（RSD）為標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)時的3倍 |
| 有 效 期 |
長期 |
| 發(fā)布時間 |
2010-12-09 |
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